ESDA:n EOS/ESD Symposium järjestettiin perinteikkäästi Kalifornian Anaheimissa Disneyland hotellissa 11.-16.9.2011. Samoin kuin edellisenä syksynä tilaisuus veti tälläkin kertaa puoleensa yli kolmesataa asiantuntijaa tai aiheesta kiinnostunutta henkilöä. Tilaisuudessa nähtiin 52 korkeatasoista esitystä, jotka olivat jaettu 12 aihealueeseen ja kahteen rinnakkaiseen tapahtumaan. Piiritason ESD suojauksen lisäksi esityksissä korostui mm. CDM fysiikkaan liittyvät haasteet. Analysointitekniikkana simulointi nousi esiin monissa esityksissä.
Suomesta tilaisuuteen osallistui Cascade Metrology Oy:n lisäksi kaksi henkilöä Nokia Oyj:stä: Pasi K. Tamminen ja Tuomas Reinvuo. Pasi esitteli kokemuksen tuomalla varmuudella artikkelimme tuotespesifisistä riskianalyyseistä [1] ja Tuomas kertoi rauhallisella tyylillään tuotespesifisten riskien mittaamisesta ja simuloinnista [2]. Kummatkin esitykset saivat ansaitsemansa huomion ja kiitokset.
Kulissien takana ESDA:n järjestäjät olivat huolissaan tehdas- ja materiaali ryhmän näivettymisestä. Elektroniikkavalmistus on siirtynyt Aasiaan, mutta sieltä on vaikea saada tehdastason suojauksesta kiinnostuneita osallistujia mukaan kansainväliseen toimintaan. ESD suojaustarvikkeita toimittavien yritysten esittelypaikoilla vierailijoita oli vähänlaisesti. Tämä johtunee myös siitä, etteivät organisaatiot ole halukkaita lähettämään ESD-koordinaattoreita ja vastuuhenkilöitä koulutettavaksi maapallon toiselle puolelle.
Symposium on tärkeä kansainvälinen koulutus- ja verkostoitumistapahtuma. Seuraava tilaisuus järjestetään Tucsonissa Arizonassa 9.–14. syyskuuta 2012.
[1] ”Product specific ESD risk analysis” 33. EOS/ESD Symposium 2011: Pasi Tamminen, NOKIA Corporation; Toni Viheriäkoski, Cascade Metrology
[2] ”Measurements and simulations in product specific risk analysis” 33. EOS/ESD Symposium 2011: Tuomas Reinvuo, Pasi Tamminen, NOKIA Corporation
Staattinen sähkö ja ESD 