Kansainvälinen työryhmä ”Industrial council on ESD targets” kokoontui Symposiumin päätteeksi torstaina 15.9 ja perjantaina 16.9. Tällä hetkellä Industrial council viimeistelee systeemitason ESD suojauksen toista vaihetta, mutta myös tulevaisuuden tehtäviä on suunnitteilla. Seuraava vaihe keskittynee sähköisen ylikuormituksen alueeseen varsin hyvin perustein: K.T. Kaschanin esityksen mukaisesti muita kuin ESD:n aiheuttamia vikaantumisia sähköisistä ylikuormituksista on noin 94 %. ESD vikaantumisten osuus on vain 6 %. [1]. Tilastollisesta näkökulmasta huolimatta ei liene epäselvää missä EOS/ESD suojauksen painopisteen tulee OEM tehtaalla olla. Aiheessa ei ole varsinaisesti mitään uutta komponenttivalmistajille tai FA insinööreille, mutta tehdastason suojauksista vastaaville ja ESD-hallintaohjelmien laatijoille olisi tässä pohdinnan paikka.
[1] ”The impact of Electrical overstress on the Design, Handling and application of integrated circuits” 33. EOS/ESD Symposium 2011: K.T Kaschani, Texas Instruments, INC.; R. Gärtner, Infineon Technologies AG